Yüzey görüntüleme. topografi, morfoloji, şekil ve boyut analizleri
Nitel ve nicel elementel analiz.
Cihaz Adı : EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) sistemi Marka : i-XRF Model : i-XRF 500 Teknik Özellik : Nitel ve nicel elementel analiz. Miktar : 1 Cihaz Kaynağı : Diğer |
Cihaz Adı : Taramalı Elektron Mikroskobu Marka : Jeol Model : JSM 5600 Teknik Özellik : Yüksek çözünürlük ve büyütmelerde mikroyapı incelemelerinde kullanılmaktadır. Ayrıca mikroyapıdaki fazların atom numarası kontrast farkına dayanan görüntüleri elde edilebilmektedir. Miktar : 1 Cihaz Kaynağı : Diğer |
Adı | Açıklama | Ekip |
---|---|---|
No records found. |
Adı | Açıklama | Ekip |
---|---|---|
No records found. |
Adı | Açıklama | Ekip |
---|---|---|
No records found. |
Adı | Açıklama | Ekip |
---|---|---|
No records found. |
Adı | Açıklama | Ekip |
---|---|---|
No records found. |
Tip | Adı | Açıklama | Ekip |
---|---|---|---|
No records found. |